红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射 (ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是，根据基尔霍夫定律（Kirchhoff’s Law），任何物质在温度高于**零度时，其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级，在返回基态能级时通过发射释放能量；并且在热平衡条件下，物质的发射能量和其吸收率的比值，仅和物质的温度和发射的波长有关，即在热平衡时，物质发射的能量一定等于吸收的能量。
黑体是最理想的吸收体，其发射率也是最大的。按照应用领域的不同，黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下，平板式黑体适用的温度范围在200°C以内，空腔式黑体适用的温度更高，有的甚至到达 2000°C 以上。在计算某些材料的发射率时，往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度，接着立即测量样品的发射谱图强度，然后将两者相除，即可归一化得到该温度下，该材料不同波长的发射率。 下图为三种不同温度下黑体的发射谱图，我们可以从谱图中了解到， 随着温度的不断升高，发射的强度是逐渐增大的，这是由普朗克定律（Planck’s Law）所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外，我们也发现，不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的，温度越高，峰位极大值越向高波数位移，也就是移向短波的方向，该现象符合维恩位移定律，nmax=1.93T。
FOLI10-RE是自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FOLI10-RE也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。 发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图变形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。
对于室温下的物质的红外发射测量，提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能 量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询应用工程师。