紫外可见近红外分光光度计
简介:

紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)可覆盖UV-VIS-NIR全波段光谱范围,实现UV-Vis-NIR波段连续扫描,其应用领域广泛,可测量固体/液体样本在紫外-可见-近红外范围内的特征吸收;可研究玻璃镀膜样品吸收/透射或反射光谱;可研究粉末样品在整个紫外可见近红外区的吸收谱图,适合于半导体、光学元件、建筑材料、新型材料等等行业,是功能最强劲的光谱分析仪器。

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产品详情

仪器特点

  1. 采用经典的Czerny-Turner光学结构,其结构简单、精度高、光谱分辨率良好;
  2. 采用双光栅、双接收器的设计,保证了仪器工作波段可覆盖紫外可见、近红外区(UV-VIS-NIR)全波段的优势;
  3. 接收器件均为进口器件,保证了仪器的高性能和稳定度;
  4. 仪器的控制(如光栅转换、滤光片转换、接收器转换、波长扫描等)全部由计算机控制,接口为 USB2.0,仪器的连接简单,极大的提高了通讯速率;
  5. 狭缝宽度7档可选,分别是(0.1nm0.2nm0.5nm1.0nm2.0nm3.0nm5.0nm)。用户可根据实际需要任意选择。
  6. 全中文操作软件,功能选择简单、易懂。


规格参数:

工作波长范围

190-2800nm

扫描方式

透过率、吸光度、反射率、能量

波长准确度

±0.5nmUV/VIS;±8nmNIR

波长重复性

0.3nm(UV/VIS) ±4nmNIR

采样间隔

0.1nm0.2nm0.5nm1nm1.5nm2nm5nm10nm

光度范围

0.3002.5A

光度准确度

±0.3%T0-100%T

光度重复性

0.2%T

基线平直度

±0.008A200-2500nm,预热30分钟后)

光谱带宽

0.2nm-10nm

杂散光

0.2%T220nm

外形尺寸

830*600*260mm

紫外可见近红外分光光度计UV-VIS-NIR)软件功能:
本仪器工作软件具有丰富的测试分析功能,可进行透过率、吸光度、能量、反射率测量。具有光谱扫描、定点测量、多波长测量的功能。
 

紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)仪器成套性:

紫外可见近红外分光光度计主机、USB数据线、石英比色皿、挡零块、应用软件、配套工具等
* 计算机及打印机(需另配)。

紫外可见近红外分光光度计(UV-VIS-NIR)可选附件:
专用反射附件、专用固体样品测量附件、专用漫反射样品测量附件



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